上海USB分析儀

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-08-29

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這里設(shè)置為20MSamples@4MHz的速度,也就是能持續(xù)采樣5秒鐘。3.設(shè)置協(xié)議,點(diǎn)右上角的“Options”按鈕,找到analyzer1,設(shè)置為I2C協(xié)議,詳見圖1。4.按“Start”按鈕,開始采樣。圖5圖6數(shù)據(jù)分析采樣結(jié)束后,可以看到波形,見圖2。由于我們設(shè)置了是I2C分析,因此不光顯示出波形,還有根據(jù)I2C協(xié)議解碼顯示的字節(jié)內(nèi)容。單片機(jī)對AT24C16進(jìn)行寫入操作,在0x00地址處寫入10000等數(shù)字。波形起始是“start”信號,然后依次是AT24C16的標(biāo)識0xA2。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀,包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀,以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí),歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。寫入地址0x00,數(shù)據(jù)0x10,0x27等。由于寫入以字節(jié)為單位,因此0x2710=10000,表明采樣成功。將鼠標(biāo)放在波形上,點(diǎn)擊左鍵,實(shí)現(xiàn)zoomin功能。清遠(yuǎn)分析儀費(fèi)用USB PD,3.1, 3.0,2.0協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!

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就無法區(qū)分給定信號轉(zhuǎn)變區(qū)域是與時(shí)鐘上升沿相關(guān)聯(lián),還是與下降沿(或兩者)相關(guān)聯(lián)。眼定位工作原理:通過邏輯分析儀使用少量的偏移延遲對每個(gè)通道進(jìn)行雙重采樣的功能,以及通過使用獨(dú)有的OR操作比較延遲的樣本可進(jìn)行眼定位測量。圖14眼定位工作原理當(dāng)獨(dú)有的OR輸出很高時(shí),延遲的樣本會有所差別,并且會在延遲時(shí)間之間檢測到轉(zhuǎn)變。由于采樣信號的不穩(wěn)定和其他變化,眼定位測量將對每對延遲值的多個(gè)時(shí)鐘進(jìn)行檢查,以便報(bào)告兩次延遲時(shí)間之間發(fā)生轉(zhuǎn)變的頻率。然后,檢查另一對延遲值,依次類推,直到掃描完轉(zhuǎn)變的整個(gè)時(shí)間范圍。圖15延遲值記錄因?yàn)檫壿嫹治鰞x可以調(diào)整通道的閾電壓,所以眼定位測量可在很多閾電壓電平隨著時(shí)間的推移對轉(zhuǎn)變進(jìn)行重復(fù)掃描。圖16眼定位的多閾值掃描通過調(diào)整閾電壓和查看活動指示符,眼定位可查找信號活動信封并確定佳閾電壓;然后通過在該閾值執(zhí)行全時(shí)掃描,眼定位可找出樣本位置。圖17眼定位的閾值和采樣位置掃描也可以在當(dāng)前閾電壓設(shè)置下運(yùn)行全時(shí)掃描,以便自動設(shè)置采樣位置。圖18掃描采樣位置自動閾值和采樣位置設(shè)置掃描通常足以確保正確采集數(shù)據(jù),但它還可以識別您想要進(jìn)一步詳細(xì)查看的信號(例如,如果您想查看延遲、衰減等)。

而在另一端落下。換句話說,由于邏輯分析儀內(nèi)存的深度(樣本數(shù)量)有限,因此每當(dāng)采集新樣本時(shí),如果內(nèi)存已滿,將會刪除內(nèi)存中現(xiàn)有的舊的樣本。如下圖所示。圖20邏輯分析儀觸發(fā)的傳送帶類比邏輯分析儀觸發(fā)就像是放置在傳送帶(上面放置有多個(gè)箱子)起始位置上的箱子一樣。它們的任務(wù)是“查找特殊的箱子,并在該箱子到達(dá)傳送帶的某一特定位置時(shí)停止運(yùn)行傳送帶”。在此類比中,特殊的箱子就是觸發(fā)。邏輯分析儀檢測到與觸發(fā)條件相匹配的樣本后,就表示當(dāng)觸發(fā)位于內(nèi)存中的適當(dāng)位置時(shí)應(yīng)停止繼續(xù)采集樣本。觸發(fā)在內(nèi)存中的位置被稱為觸發(fā)位置。通常,觸發(fā)位置被設(shè)置在中間,以便使觸發(fā)前后出現(xiàn)的樣本的數(shù)量不超出內(nèi)存范圍。不過,也可以將觸發(fā)位置設(shè)置在內(nèi)存中的任意位置。由于邏輯分析儀觸發(fā)提供了量功能,因此下表將對本文中介紹的功能進(jìn)行簡要概述。該表將對這些功能進(jìn)行逐一描述。表1邏輯分析儀觸發(fā)功能摘要觸發(fā)序列:雖然邏輯分析儀觸發(fā)通常很簡單,但它們卻需要復(fù)雜的程序。例如,可能想在某一信號的上升沿后跟另一信號的上升沿時(shí)觸發(fā)。這意味著邏輯分析器必須在開始尋找下一個(gè)上升沿之前找到個(gè)上升沿。由于擁有一個(gè)可查找觸發(fā)的步驟序列,因此它被稱為觸發(fā)序列。SDIO協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器廠家只找歐奧,服務(wù)好!

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才能符合此表達(dá)式。換句話說,在ADDR等于1000的同時(shí)DATA等于2000。因此,如果要在同時(shí)發(fā)生兩個(gè)事件時(shí)觸發(fā),則應(yīng)使用布爾邏輯表達(dá)式。常見錯誤是應(yīng)使用布爾邏輯表達(dá)式時(shí)嘗試使用兩個(gè)序列步驟,或者應(yīng)使用兩個(gè)序列步驟時(shí)嘗試使用布爾邏輯表達(dá)式。當(dāng)多個(gè)事件同時(shí)發(fā)生時(shí)使用布爾邏輯表達(dá)式,而在一個(gè)事件接著一個(gè)事件發(fā)生時(shí)使用多個(gè)序列步驟。分支:分支類似于C編程語言中的Switch語句和Basic中的SelectCase語句。分支可提供測試多個(gè)sADDR”。多數(shù)邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式,因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR標(biāo)志:標(biāo)志是用于從一個(gè)模塊向另一個(gè)模塊發(fā)送信號的布爾變量。當(dāng)某種情況在某一模塊中發(fā)生而稍后被另一模塊測試時(shí)可以設(shè)置標(biāo)志。在下面的示例中,標(biāo)志1用于跟蹤在模塊1的觸發(fā)序列中發(fā)生的情況,如,如果想在ADDR=1000第5次出現(xiàn)時(shí)觸發(fā),可以將觸發(fā)設(shè)置為:IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計(jì)數(shù)器類似于整數(shù)變量。全局計(jì)數(shù)器比發(fā)生計(jì)數(shù)器更靈活,因?yàn)樗鼈兛捎糜跒閺?fù)雜事件(例如一個(gè)時(shí)鐘沿后跟另一時(shí)鐘沿的事件)計(jì)數(shù)??梢栽黾印y試和重新設(shè)置全局計(jì)數(shù)器。默認(rèn)情況下,全局計(jì)數(shù)器以零開頭并且不需要重新設(shè)置。PCIE協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧!清遠(yuǎn)RFFE分析儀找哪家

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