雙面板的鍍層厚度測(cè)量方法是什么？?

深圳市聯(lián)合多層線路板有限公司2025-08-20

雙面板的鍍層厚度測(cè)量方法常用 X 射線熒光法（XRF），精度 ±0.01μm，測(cè)量點(diǎn)覆蓋鍍層不同區(qū)域（邊緣、中心），鎳層測(cè) 3 點(diǎn)取平均（≥3μm），金層測(cè) 5 點(diǎn)取平均（≥0.05μm），確保符合設(shè)計(jì)要求和焊接可靠性。?

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