在測試通道數(shù)方面,傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法,即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道,所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接,但是由于會引入額外的噪聲,所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中,對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法,即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試,這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖,芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIG使用PCI-E協(xié)議分析儀能不能直接告訴我總線上的協(xié)議錯誤?智能化多端口矩陣測試PCI-E測試銷售價格
按照測試規(guī)范的要求,在發(fā)送信號質(zhì)量的測試中,只要有1個Preset值下能夠通過信 號質(zhì)量測試就算過關(guān);但是在Preset的測試中,則需要依次遍歷所有的Preset,并依次保存 波形進(jìn)行分析。對于PCIe3.0和PCIe4.0的速率來說,由于采用128b/130b編碼,其一致性測試碼型比之前8b/10b編碼下的一致性測試碼型要復(fù)雜,總共包含36個128b/130b的 編碼字。通過特殊的設(shè)計, 一致性測試碼型中包含了長“1”碼型、長“0”碼型以及重復(fù)的“01” 碼型,通過對這些碼型的計算和處理,測試軟件可以方便地進(jìn)行預(yù)加重、眼圖、抖動、通道損 耗的計算。 11是典型PCle3.0和PCIe4.0速率下的一致性測試碼型。智能化多端口矩陣測試PCI-E測試銷售價格走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協(xié)議的嗎?
這么多的組合是不可能完全通過人工設(shè)置和調(diào)整 的,必須有一定的機制能夠根據(jù)實際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行 自動的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整,這就是鏈路均衡的動態(tài)協(xié)商。動態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中 就有定義,但早期的芯片并沒有普遍采用;在PCIe4.0規(guī)范中,這個要求是強制的,而且很 多測試項目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān),如果支持不好則無法通過一致性測試。圖4.7是 PCIe的鏈路狀態(tài)機,從設(shè)備上電開始,需要經(jīng)過一系列過程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會進(jìn)行簡單的速率和位寬協(xié)商,而在Recovery階段則會進(jìn)行更 加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。
對于PCIe來說,由于長鏈路時的損耗很大,因此接收端的裕量很小。為了掌握實際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實際接收到的信號質(zhì)量,在PCIe3.0時代,有些芯片廠商會用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號質(zhì)量,但這個功能不是強制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中,規(guī)范把 接收端的信號質(zhì)量掃描功能作為強制要求,正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描,即通過調(diào)整水平方 向的采樣點時刻以及垂直方向的信號判決閾值,PCIE 5.0,速率翻倍vs性能優(yōu)化;
簡單總結(jié)一下,PCIe4.0和PCIe3.0在物理層技術(shù)上的相同點和不同點有:(1)PCIe4.0的數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,并向下兼容前代速率;(2)都采用128b/130b數(shù)據(jù)編碼方式;(3)發(fā)送端都采用3階預(yù)加重和11種Preset;(4)接收端都有CTLE和DFE的均衡;(5)PCIe3.0是1抽頭DFE,PCIe4.0是2抽頭DFE;(6)PCIe4.0接收芯片的LaneMargin功能為強制要求(7)PCIe4.0的鏈路長度縮減到12英寸,多1個連接器,更長鏈路需要Retimer;(8)為了支持應(yīng)對鏈路損耗以及不同鏈路的情況,新開發(fā)的PCle3.0芯片和全部PCIe4.0芯片都需要支持動態(tài)鏈路協(xié)商功能;PCI-E轉(zhuǎn)USB或UFS接口的控制芯片和測試板的制作方法;河北PCI-E測試市場價價格走勢
PCI-E測試信號質(zhì)量測試;智能化多端口矩陣測試PCI-E測試銷售價格
PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實際的測試中,為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出,PCI-SIG組織也設(shè)計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似,也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應(yīng)位寬的CLB板;插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板;而在接收容限測試中,由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn),整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。智能化多端口矩陣測試PCI-E測試銷售價格